material-testing.com.vn
  • Trang chủ
  • Giới thiệu
  • Sản phẩm
    • Buồng thử nghiệm môi trườngBuồng thử nghiệm môi trường
    • Kính hiển viKính hiển vi
      • Kính hiển vi đo lườngKính hiển vi đo lường
      • Kính hiển vi huỳnh quangKính hiển vi huỳnh quang
      • Kính hiển vi kim tương soi ngượcKính hiển vi kim tương soi ngược
      • Kính hiển vi kim tương soi thẳngKính hiển vi kim tương soi thẳng
      • Kính hiển vi kỹ thuật sốKính hiển vi kỹ thuật số
      • Kính hiển vi lực nguyên tửKính hiển vi lực nguyên tử
      • Kính hiển vi luyện kimKính hiển vi luyện kim
      • Kính hiển vi quang học 3DKính hiển vi quang học 3D
      • Kính hiển vi soi nổiKính hiển vi soi nổi
      • Kính hiển vi tia X 3DKính hiển vi tia X 3D
    • Lò nungLò nung
      • Lò nung cảm ứngLò nung cảm ứng
      • Lò nung điện trởLò nung điện trở
      • Lò nung vi sóngLò nung vi sóng
    • Máy phân tích thành phần nguyên tốMáy phân tích thành phần nguyên tố
      • Máy đo nhiễu xạ tia XMáy đo nhiễu xạ tia X
      • Máy phân tích cầm tayMáy phân tích cầm tay
      • Máy quang phổMáy quang phổ
    • Máy phân tích tín hiệu và dữ liệuMáy phân tích tín hiệu và dữ liệu
      • Máy phân tích dữ liệu mạngMáy phân tích dữ liệu mạng
      • Máy phân tích tín hiệu âm thanhMáy phân tích tín hiệu âm thanh
      • Máy phân tích tín hiệu vô tuyếnMáy phân tích tín hiệu vô tuyến
      • Máy phân tích video và hình ảnhMáy phân tích video và hình ảnh
    • Thiết bị đo cơ lý tính vạn năngThiết bị đo cơ lý tính vạn năng
      • Máy đo chỉ số dòng chảy của nhựaMáy đo chỉ số dòng chảy của nhựa
      • Máy đo độ cứngMáy đo độ cứng
      • Máy đo độ dẻoMáy đo độ dẻo
      • Máy kéo nén vạn năngMáy kéo nén vạn năng
      • Máy kiểm tra độ bền gấpMáy kiểm tra độ bền gấp
      • Máy kiểm tra độ bền va đậpMáy kiểm tra độ bền va đập
      • Máy kiểm tra độ xoắnMáy kiểm tra độ xoắn
      • Máy thí nghiệm mài mònMáy thí nghiệm mài mòn
      • Máy thử uốnMáy thử uốn
    • NDTNDT
      • Máy quyét hình ảnh hạt từ tínhMáy quyét hình ảnh hạt từ tính
      • Máy quét kiểm tra bằng X quangMáy quét kiểm tra bằng X quang
      • Máy quét kiểm tra bằng sóng siêu âmMáy quét kiểm tra bằng sóng siêu âm
      • Chụp các lớpChụp các lớp
      • Camera kính hiển viCamera kính hiển vi
    • Sinh họcSinh học
      • Kit
    • Thiết bị chuẩn bị mẫuThiết bị chuẩn bị mẫu
    • Thiết bị đo lường bán dẫnThiết bị đo lường bán dẫn
    • Tùy chọn phụ kiệnTùy chọn phụ kiện
  • Phương pháp test
    • Bề mặt
    • Độ bền kéo
    • Độ cứng
    • Độ dẻo
    • Linh hoạt
    • Ma sát
    • Nén
    • Phân tích nguyên tố
    • Phân tích tín hiệu
    • Quét
    • Uốn
    • Va chạm
    • Vi mô
  • Vật liệu
    • Cao su
    • Đá
    • Gỗ
    • Hợp kim
    • Kim loại
    • Linh kiện
    • Nhựa
    • Tín hiệu
    • Tổng hợp
    • Vật liệu dệt
    • Vật liệu kết dính
    • Vật liệu sinh học
    • Vật liệu y tế
  • Hãng sản xuất
    • Angelatoni
    • Bruker
    • Data physic
    • EchoENG
    • EchoLAB
    • Elvatech
    • GBC
    • Linn high therm
    • LTF
    • Prescott
    • Tektronics
    • Tinius Olsen
    • Yxlon
  • Tin tức
  • Liên hệ
  • Tiếng Việt
    • Tiếng Việt
    • English
Twitter Email YouTube linkedin
Menu
material-testing.com.vn
Facebook Twitter Google Email Pinterest
Trang chủMáy phân tích tín hiệu và dữ liệuPhân tích thông số Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer
tektronics

Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer

Accelerate research, reliability and failure analysis studies of semiconductor devices, materials and process development with the 4200A-SCS. The highest performance parameter analyzer, it delivers synchronizing current-voltage (I-V), capacitance-voltage (C-V) and ultra-fast pulsed I-V measurements.

Hãng sản xuất

Tektronics

Vật liệu

Tín hiệu

 
  • Mô tả
  • Đánh giá (0)
  • About brand
Mô tả
  • Overview
  • Applications
  • Modules

Overview

Parametric insight, fast and clear.

Advancing your bold discoveries has never been easier. The 4200A-SCS Parameter Analyzer reduces the time from setup to running characterization tests by up to 50%, allowing uncompromised measurement and analysis capability. Plus, embedded measurement expertise provides unparalleled test guidance and gives supreme confidence in the resulting measurements.

Highlights

  • Advanced measurement hardware for DC I-V, C-V, and pulsed I-V measurement types
  • Begin testing immediately with hundreds of user-modifiable application tests included in the Clarius software
  • Automated real-time parameter extraction, data graphing, analysis functions

Accurate C-V Characterization

Measure single-digit femtofarads with Keithley’s newest capacitance-voltage unit (CVU), the 4215-CVU. By integrating a 1 V AC source into Keithley’s industry-leading CVU architecture, the 4215-CVU offers low-noise capacitance measurements at frequencies from 1 kHz to 10 MHz.

Highlights

  • First C-V meter in its class capable of driving a 1 V AC source voltage
  • 1 kHz frequency resolution from 1 kHz to 10 MHz
  • Measure capacitance, conductance, and admittance
  • Measure on up to four channels with the 4200A-CVIV Multiswitch

Measure. Switch. Repeat.

The 4200A-CVIV Multi-Switch automatically switches between I-V and C-V measurements without re-cabling or lifting the prober tips. Unlike competing products, the four-channel 4200A-CVIV display provides local visual insight for quick test setup and easy troubleshooting when unexpected results occur.

Highlights

  • Move C-V measurement to any device terminal without re-cabling
  • User-configurable for low current capability
  • Personalize the names of output channels
  • View real-time test status

Stable low current measurements for I-V Characterization

With the 4201-SMU and 4211-SMU modules you can achieve stable low current measurements in a high capacitance system. With four models of source measure unit (SMU) to choose from, the 4200A-SCS can be customized to meet all of your I-V measurement needs. By offering field Installable Units and optional preamplifier modules, Keithley makes sure that you can make the most accurate low current measurements with little to no downtime.

Highlights

  • Add an SMU without sending the instrument back to the factory
  • Make femptoamp measurements
  • Up to 9 SMU channels
  • Optimized for long cables or large chucks

Integrated solution with analytical probers and cryogenic controllers

The 4200A-SCS Parameter Analyzer supports many manual and semi-automated wafer probers and cryogenic temperature controllers, including MPI Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Model 336 cryogenic temperature controller.

Highlights

  • “Point and click” test sequencing
  • “Manual” prober mode tests prober functionality
  • Fake prober mode enables debugging without removing commands

Applications

Femtofarad Capacitance Measurements

Measure sub-femtofarad capacitances with the 4215-CVU module. By driving 1 V AC, the 4215-CVU can achieve a noise level as low as six attofarads when measuring a 1 fF capacitor. This is just one of dozens of applications included with the Clarius software for measuring capacitance and extracting important parameters.

Highlights

  • Built-in femtofarad measurement capability
  • 10,000 frequency steps from 1kHz to 10MHz
  • Customize any test to any device using user libraries

Semiconductor and NVM Reliability

Put your new technologies to the test with thorough pulsed I-V characterization. The 4200A-SCS comes with support and ready-to-run tests for the latest in NVRAM technologies from floating gate flash to ReRAM and FeRAM. Dual sourcing and measuring capabilities in current and voltage allow both transient and I-V domain characterization.

Semiconductor and NVM Reliability

C-V Measurement for High Impedance Applications

Use Keithley’s custom Very Low Frequency C-V Technique to analyze the capacitance of your high resistance sample. This technique is performed using only source measure unit (SMU) instruments but can be combined with a 4210-CVU to perform higher frequency measurements as well.

Testing when using Long Cables or Capacitive Fixtures

Use 4201 or 4211-SMUs when making tests requires very long cabling or fixtures with higher capacitances. These SMUs are ideal for connecting to LCD test stations, probers, switch matrices or any other large or complicated tester. Field installable versions allow you to add capacity without returning the unit to a service center.

Nanoscale Device Characterization

The integrated instrument capabilities of the 4200A-SCS simplify the measurement requirements in developing nanoscale electronics such as carbon nanotubes. Start your investigations from a preconfigured test project and expand your work from there. A pulsed source mode for SMUs helps reduce overheating problems can be combined with low voltage C-V and ultra-fast pulsed DC measurements in seconds.

Resistivity of Materials

Use a 4200A-SCS with integrated SMUs to easily measure resistivity using a four-point collinear probe or van der Pauw method. Included tests perform repetitive van der Pauw calculations automatically, saving you valuable research time. A maximum current resolution of 10aA and input impedance of >10­­­­16 ohms give you more accurate and precise results.

MOSFET Characterization

The 4200A-SCS can hold all the instruments necessary for full characterization of MOS devices through component or on-wafer testing. Included tests and projects solve for oxide thickness of a MOSCap, threshold voltages, doping concentration, mobile ion concentration, and more. All these tests can be run at the touch of a button from a single instrument box.

Modules

DatasheetModelDescriptionPricing
View Datasheet4200A-SCS-PKA
High Resolution IV
4200A-SCS: Parameter Analyzer mainframe
4201-SMU: Two medium power SMUs for high capacitance setups
4200-PA: One preamplifier
8101-PIV: One test fixture with sample devices
Request a Quote
View Datasheet4200A-SCS-PKB
High Resolution IV & CV
4200A-SCS: Parameter Analyzer mainframe
4201-SMU: Two medium power SMUs for high capacitance setups
4200-PA: One preamplifier
4215-CVU: One high resolution multi-frequency C-V unit
8101-PIV: One test fixture with sample devices
Request a Quote
View Datasheet4200A-SCS-PKC
High Power IV & CV
4200A-SCS: Parameter Analyzer mainframe
4201-SMU: Two medium power SMUs for high capacitance setups
4211-SMU: Two high power SMUs for high capacitance setups
4200-PA: Two preamplifier
4215-CVU: One high resolution multi-frequency C-V unit
8101-PIV: One test fixture with sample devices
Request a Quote
View Datasheet4200-BTI-A
Ultra-fast NBTI/PBTI
For sophisticated NBTI and PBTI measurements on leading-edge silicon CMOS technology Package 4200-BTI-A includes:

  • (1) 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module
  • (2) 4225-RPM Remote Preamplifier/Switch Modules
  • Automated Characterization Suite (ACS) Software
  • Ultra-Fast BTI Test Project Module
  • Cabling
Request a Quote
Đánh giá (0)

Đánh giá

Chưa có đánh giá nào.

Chỉ những khách hàng đã đăng nhập và mua sản phẩm này mới có thể đưa ra đánh giá.

About brand
   Từ cảm hứng đến hiện thực    Giảm khoảng cách giữa cảm hứng và nhận thức.    Tektronix là công ty hiểu biết sâu sắc về cam kết hiệu suất và bị ép buộc bởi các khả năng.    Tektronix thiết kế và sản xuất các giải pháp kiểm tra và đo lường để vượt qua các bức tường phức tạp và thúc đẩy đổi mới toàn cầu. Chúng tôi cùng nhau trao quyền cho các kỹ sư tạo ra và nhận ra những tiến bộ công nghệ với sự dễ dàng, tốc độ và độ chính xác cao hơn bao giờ hết. Các giải pháp của Tektronix đã hỗ trợ rất nhiều cho những tiến bộ lớn nhất của loài người trong 70 năm qua. Sức khỏe. Giao tiếp. Vận động. Không gian. Với các văn phòng ở 21 quốc gia, chúng tôi cam kết với các nhà khoa học, kỹ sư và kỹ thuật viên trên khắp thế giới, những người sẽ xác định tương lai.
Danh mục: Phân tích thông số
Share
Facebook Twitter Google Email Pinterest

CÔNG TY TNHH GIẢI PHÁP DỊCH VỤ TỰ ĐỘNG THÔNG MINH VIỆT NAM
(CÔNG TY VISAS)
Địa chỉ: 6 Mạc Thái Tổ, Phường Yên Hòa, Quận Cầu Giấy, Hà Nội, Việt Nam.
Hotline : +84 386198984

Email     : info2@visasltd.com

Contact
close slider

    LIÊN HỆ/CONTACT







    • Trang chủ
    • Giới thiệu
    • Sản phẩm
      • Buồng thử nghiệm môi trườngBuồng thử nghiệm môi trường
      • Kính hiển viKính hiển vi
        • Kính hiển vi đo lườngKính hiển vi đo lường
        • Kính hiển vi huỳnh quangKính hiển vi huỳnh quang
        • Kính hiển vi kim tương soi ngượcKính hiển vi kim tương soi ngược
        • Kính hiển vi kim tương soi thẳngKính hiển vi kim tương soi thẳng
        • Kính hiển vi kỹ thuật sốKính hiển vi kỹ thuật số
        • Kính hiển vi lực nguyên tửKính hiển vi lực nguyên tử
        • Kính hiển vi luyện kimKính hiển vi luyện kim
        • Kính hiển vi quang học 3DKính hiển vi quang học 3D
        • Kính hiển vi soi nổiKính hiển vi soi nổi
        • Kính hiển vi tia X 3DKính hiển vi tia X 3D
      • Lò nungLò nung
        • Lò nung cảm ứngLò nung cảm ứng
        • Lò nung điện trởLò nung điện trở
        • Lò nung vi sóngLò nung vi sóng
      • Máy phân tích thành phần nguyên tốMáy phân tích thành phần nguyên tố
        • Máy đo nhiễu xạ tia XMáy đo nhiễu xạ tia X
        • Máy phân tích cầm tayMáy phân tích cầm tay
        • Máy quang phổMáy quang phổ
      • Máy phân tích tín hiệu và dữ liệuMáy phân tích tín hiệu và dữ liệu
        • Máy phân tích dữ liệu mạngMáy phân tích dữ liệu mạng
        • Máy phân tích tín hiệu âm thanhMáy phân tích tín hiệu âm thanh
        • Máy phân tích tín hiệu vô tuyếnMáy phân tích tín hiệu vô tuyến
        • Máy phân tích video và hình ảnhMáy phân tích video và hình ảnh
      • Thiết bị đo cơ lý tính vạn năngThiết bị đo cơ lý tính vạn năng
        • Máy đo chỉ số dòng chảy của nhựaMáy đo chỉ số dòng chảy của nhựa
        • Máy đo độ cứngMáy đo độ cứng
        • Máy đo độ dẻoMáy đo độ dẻo
        • Máy kéo nén vạn năngMáy kéo nén vạn năng
        • Máy kiểm tra độ bền gấpMáy kiểm tra độ bền gấp
        • Máy kiểm tra độ bền va đậpMáy kiểm tra độ bền va đập
        • Máy kiểm tra độ xoắnMáy kiểm tra độ xoắn
        • Máy thí nghiệm mài mònMáy thí nghiệm mài mòn
        • Máy thử uốnMáy thử uốn
      • NDTNDT
        • Máy quyét hình ảnh hạt từ tínhMáy quyét hình ảnh hạt từ tính
        • Máy quét kiểm tra bằng X quangMáy quét kiểm tra bằng X quang
        • Máy quét kiểm tra bằng sóng siêu âmMáy quét kiểm tra bằng sóng siêu âm
        • Chụp các lớpChụp các lớp
        • Camera kính hiển viCamera kính hiển vi
      • Sinh họcSinh học
        • Kit
      • Thiết bị chuẩn bị mẫuThiết bị chuẩn bị mẫu
      • Thiết bị đo lường bán dẫnThiết bị đo lường bán dẫn
      • Tùy chọn phụ kiệnTùy chọn phụ kiện
    • Phương pháp test
      • Bề mặt
      • Độ bền kéo
      • Độ cứng
      • Độ dẻo
      • Linh hoạt
      • Ma sát
      • Nén
      • Phân tích nguyên tố
      • Phân tích tín hiệu
      • Quét
      • Uốn
      • Va chạm
      • Vi mô
    • Vật liệu
      • Cao su
      • Đá
      • Gỗ
      • Hợp kim
      • Kim loại
      • Linh kiện
      • Nhựa
      • Tín hiệu
      • Tổng hợp
      • Vật liệu dệt
      • Vật liệu kết dính
      • Vật liệu sinh học
      • Vật liệu y tế
    • Hãng sản xuất
      • Angelatoni
      • Bruker
      • Data physic
      • EchoENG
      • EchoLAB
      • Elvatech
      • GBC
      • Linn high therm
      • LTF
      • Prescott
      • Tektronics
      • Tinius Olsen
      • Yxlon
    • Tin tức
    • Liên hệ
    • Tiếng Việt
      • Tiếng Việt
      • English
    Scroll To Top